Para peneliti di bidang implantologi telah mengidentifikasi kekasaran permukaan implant gigi sebagai parameter yang penting bagi implant dan kapasitas implant untuk dapat berjangkar pada jaringan tulang. Metode manufaktur implant gigi dengan aneka permukaan ada bermacam-macam.

Metode-metode ini berguna untuk meningkatkan kekasaran permukaan implan. Moetode yang plaing umum dipakai dalam manufaktur implant pada masa sekarang adalah sandblasting (penyemburan partikel), oksidasi anoda, etsa asam, modifikasi laser, penggunaan mesin, dan kombinasi metode-metode tersebut. Penggunaan mesin menghasilkan permukaan yang halus (kekasaran permukaan paling rendah). Metode ini adalah metode pertama yang dipakai dalam implant generasi pertama dari era 1960an. Produksi implant dengan permukaan yang relatif halus sudah termasuk langka.

Implan-implan yang tersedia secara komersil bisa dikategorikan berdasarkan nilai kekasaran permukaan (S_a) menjadi 4 kelompok, yaitu:

1. Permukaan halus (S_a < 0,5 μm)
2. Permukaan kasar minimal (S_a = 0,5-1,0 μm)
3. Permukaan kasar sedang (S_a = 1,0-2,0 μm)
4. Permukaan kasar (S_a > 2,0 μm)
   Kategori keempat ini hanya disebut "kasar" saja.

Nilai S_a menunjukkan rata-rata ketinggian puncak dan jurang pada permukaan implan. Sementara itu, parameter penting yang lainnya, yaitu S_dr, menampilkan area permukaan yang berkembang dalam perbandingannya dengan bidang datar sempurna.

Kontak dengan jaringan tulang bisa diperoleh dengan area permukaan yang lebih luas. Saat ini dikenal sekitar 50 parameter permukaan dan kombinasinya, tapi belum diketahui seberapa penting parameter-parameteri tersebut (Gadelmawla et al., 2002) karena penelitian di bidang ini masih kurang banyak.

Untuk pengukuran S_a, ada beberapa faktor yang akan memengaruhi hasil keluarannya, termasuk faktor tipe peralatan yang dipergunakan, bidang analisis, proses filter data mentah, nilai ambang, dan pengukuran dilakukan pada bagian mana dari implan.

Untuk bisa memperoleh nilai-nilai yang lebih dapat disebandingkan dalam literatur-literatur yang berkaitan dengan implant gigi, pedoman-pedoman pengukuran telah dipublikasikan, seperti misalnya dalam Wennerberg & Albrektsson (2000). Di samping itu, penting untuk diakui bahwa kimia permukaan dan komposisi fase kimia permukaan implant akan berubah dengan berubahnya kekasaran permukaan implan (Kasemo & Lausmaa, 1988).