Dalam rangka dapat mengerti lebih jauh tentang mekanisme pengikatan yang terjadi antara jaringan tulang yang hidup dan permukaan implan, peneliti perlu memakai alat-alat analisis dengan resolusi yang cukup untuk analisis ultrastruktural.

Hal ini secara khusus penting seiring dengan kemunculan teknologi permukaan implant yang berstruktur nano. Lagipula, bukan hanya aspek struktural saja yang perlu dipertimbangkan, tapi mempertimbangkan aspek kimia lapisan antarmuka juga penting. Alat yang dipilih dalam penelitian semacam itu adalah TEM, singkatan dari Transmission Electron Microscopy (mikroskop elektron transmisi). Pada piranti ini, bermacam-macam piranti analisis telah tersedia dan sudah siap dipakai dalam resolusi tinggi.

Interaksi solid elektron menghasilkan fenomena kontras yang berbeda. Hal itu bergantung pada struktur kristal dan jumlah atom serta interaksi dengan elektron-elektron sampel yang menghasilkan kehilangan energi berkas elektron primer dan sinar X sekunder untuk analisis kimia.

Bukan hanya itu, penyebaran elastis dan kontras interferensi juga dapat digunakan untuk melakukan analisis struktural. Oleh karena itu, TEM adalah piranti serbaguna yang menggabungkan analisis struktural dan kimia dengan resolusi lateral dan volumetrik yang tinggi. Namun, literatur implant biomedis dalam jaringan tulang yang menggunakan TEM masih langka tersedia. Alasan utama dari prakara itu adalah preparasi sampel, terutama untuk implant logam. Sampel harus sekitar 100 nm tebal agar transparan elektron.

Selanjutnya keseimbangan antara kontras dan informasi tumpang-tindih terjadi, di mana kontras kurang diperoleh kala sampel menjadi lebih tipis, sementara jumlah informasi yang tumpang tindih dalam sampel meningkat seiring dengan ketebalannya.