Probing jaringan peri-implant

Selama bertahun-tahun, telah salah diasumsikan bahwa ujung probe periodontal dalam pengukuran kedalaman probing (PD) menentukan dasar apikal epitel dento-gingival. Kemudian penelitian mendokumentasikan bahwa yang terjadi bukan begitu. Di tempat yang saras, ujung probe gagal mencapai bagian apikal dari penghalang epitel, sementara di situs yang sakit, probe menemukan dasar apikal infiltrat sel radang. Oleh karena itu, pengukuran PD menilai kedalaman penetrasi probe atau resistensi yang ditawarkan oleh jaringan lunak.

Pengaruh kondisi mukosa peri-implant ( yang saras atau sakit)  pada weton pengukuran probing dipelajari pada model sato. Lang et al. melaporkan bahwa pada tempat kedudukan implant dengan mukosa atau mukositis yang saras, ujung probe menentukan batas apikal penghalang epitel dengan kesalahan sekitar 0.2 mm, sedangkan pada tempat kedudukan implant dengan peri-implantitis, kesalahan pengukuran jauh lebih besar yaitu 1.5 mm.

Abrahamsson dan Soldini, dalam sebuah penelitian berikutnya, menyatakan bahwa penyusupan probe ke jaringan lunak yang saras di permukaan bukal gigi dan implant pada waung sama dan mirip dengan panjang epitel persimpangan / penghalang. Diasumsikan bahwa menyelidiki antarmuka implant-mukosa akan memutuskan segel jaringan lunak dan membahayakan integritas perlekatan. Prakara ini diperiksa dalam penelitian pada waung yang mendokumentasikan bahwa setelah 5 hingga 7 hari pasca pemeriksaan klinis, segel jaringan lunak telah tumbuh lagi hingga tataran penuh.